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產品型號
BX-G104 -
廠商性質
生產廠家 -
更新時間
2024-05-15 -
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產品描述
納米激光橢偏儀針對光伏太陽能電池高-端研發和質量控制領域推出的專用型多入射角激光橢偏儀。BX-G104用于測量絨面單晶硅或多晶硅太陽電池表面減反膜鍍層的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可測量光滑平面材料上的單層或多層納米薄膜的膜層厚度，以及在632.8nm下折射率n和消光系數k。
18501309179
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